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产品型号：双头探针DP078-BJ-8.8L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.78mm，总长度为8.8mm、针的两端的头型为尖头、圆头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话：400-183-6682
产品型号：双头探针DP078-BF-6.3L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.78mm，总长度为6.3mm、针的两端的头型为尖头、爪头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。百瑞彩票 热线电话：400-183-6682
产品型号：双头探针DP078-BB-8.8L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.78mm，总长度为8.8mm、针的两端的头型为尖头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。百瑞彩票 热线电话：400-183-6682
产品型号：DP078-BU-8.8L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.78mm，总长度为8.8mm、针的两端的头型为尖头、爪头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话：400-183-6682
产品型号：DP058-JU-5.7L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头，爪头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话：400-183-6682
产品型号：DP058-UJ-5.7L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头，圆头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话：400-183-6682
产品型号：DP058-UB-5.7L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头，尖头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。百瑞彩票 热线电话：400-183-6682
产品型号：DP058-JB-5.7L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头，尖头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话：400-183-6682
产品型号：DP058-BU-6.3L 所属分类：双头探针 产品介绍：探针外径为0.58mm，总长度为6.3mm、针的两端的头型为尖头，爪头 产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话：400-183-6682
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探针使用一段时间后电阻值增大，主要有以下几方面原因：1. 氧化- 当探针与空气或其他氧化剂接触时，其表面可能会发生氧化反应。例如，金属探针在空气中长时间放置，会与氧气反应生成金属氧化物，这些氧化物的导电性通常比纯金属差，从而形成绝缘层或高电阻层，导致探针的电阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能较好的材料制成的探针，在长期使用过程中，也会逐渐吸附一定量的氧气或其他氧化性物质，进而改变其表面的化学组成和电阻率。2. 磨损- 在频繁使用或与其他物体接触、摩擦的过程中，探针的表面会逐渐磨损。磨损会破坏探针表面的完整性，使导电通路受损或变窄，增加电流通过时的阻力，导致电阻值上升。比如，用于测试电路板上焊点的探针，在多次接触焊点后，其尖端可能会磨损，从而使接触电阻增大。- 长期的磨损还可能导致探针表面的粗糙度增加，进一步影响 百瑞彩票
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